不同空腹血糖受损下限切点对重庆地区人群代谢状态的影响 （重庆）为了寻找预测2型糖尿病(t2dm)和糖耐量减低(igt)发生的最佳空腹血糖受损(ifg)下限切点及其对代谢状态的影响。研究者采用横断面调查的方法对重庆局部地区3189例既往无糖尿病史的自然人群的空腹血糖(fpg)进行roc分析， 绘制roc曲线，并进行糖脂代谢调查和分析。结果预测t2dm和igt发生的最佳ifg下限切点roc曲线下面积分别为0.899和0.728.用fpg来预测t2dm和igt，其灵敏度及特异度均较好的点分别为5.6 mmol/l和5.2mmol/l。在负荷后2 h血糖(2hpg)＜7.8 mmol/l人群中，与fpg＜5.6 mmol/l亚组比较，fpg5.6～6.1 mmol/l亚组肥胖、高血压、代谢综合征和胰岛素抵抗的发生率分别增加了53%、54%、60%和126%。ifg下限切点下调前后，糖调节受损(igr)各亚组组分的代谢特征不改变。可见将5.6mmol/l作为ifg的下限值适用于中国人群。